一、數(shù)字電橋法：高精度實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)

原理分析

數(shù)字電橋法通過構(gòu)建交流阻抗橋路，精確測(cè)量電容的等效串聯(lián)電阻（ESR）和容值。該方法可識(shí)別介質(zhì)損耗特性，適用于評(píng)估高頻場(chǎng)景下的電容器性能。

適用場(chǎng)景

• 研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的元器件參數(shù)驗(yàn)證
• 高頻電路電容的損耗角正切值測(cè)量
• 介質(zhì)類型對(duì)性能影響的對(duì)比分析（來源：IEEE電子測(cè)量白皮書, 2022）