電容爆漿痕跡的物理特征分析

爆漿位置與極性關(guān)聯(lián)

電解電容正負(fù)極結(jié)構(gòu)差異導(dǎo)致爆漿表現(xiàn)不同。負(fù)極通常采用機(jī)械強(qiáng)度較低的密封設(shè)計(jì)，統(tǒng)計(jì)顯示約78%的電容故障表現(xiàn)為負(fù)極端爆裂（來(lái)源：電子維修技術(shù)協(xié)會(huì),2022）。爆漿點(diǎn)附近若存在防爆刻痕，通常指向負(fù)極方向。
液態(tài)電解質(zhì)泄漏后，殘留物分布規(guī)律可輔助判斷。負(fù)極區(qū)域因材料特性更易形成放射狀結(jié)晶物，正極側(cè)則可能殘留深色氧化物。觀察時(shí)應(yīng)使用放大鏡對(duì)比兩側(cè)痕跡差異。