鋁電解電容在焊接過程中出現(xiàn)爆漿，可能直接導(dǎo)致元器件失效。高溫環(huán)境使電解液汽化膨脹，若焊接參數(shù)控制不當(dāng)，密封結(jié)構(gòu)可能被破壞。
數(shù)據(jù)顯示，超過60%的焊接故障源于溫度控制失誤(來源：電子制造技術(shù)協(xié)會(huì),2023)。部分操作人員為追求效率，往往忽視焊接設(shè)備預(yù)熱環(huán)節(jié)，直接進(jìn)入高溫焊接階段。