為什么傳統(tǒng)電容檢測(cè)方法越來(lái)越難以滿足工業(yè)需求？
隨著智能設(shè)備對(duì)精密測(cè)量的要求不斷提升，基于分立元件搭建的傳統(tǒng)檢測(cè)電路逐漸暴露短板。功耗高、校準(zhǔn)復(fù)雜、抗干擾能力弱等問(wèn)題，迫使行業(yè)尋找更優(yōu)化的解決方案。