為何電路設(shè)計(jì)的關(guān)鍵時(shí)刻總受限于電容性能?
在高速數(shù)字電路與高頻模擬系統(tǒng)中,貼片電容的選型直接影響信號完整性與設(shè)備壽命。作為國產(chǎn)電容領(lǐng)域的代表企業(yè),風(fēng)華高科通過技術(shù)創(chuàng)新,為解決這一行業(yè)痛點(diǎn)提供了新思路。
為何電路設(shè)計(jì)的關(guān)鍵時(shí)刻總受限于電容性能?
在高速數(shù)字電路與高頻模擬系統(tǒng)中,貼片電容的選型直接影響信號完整性與設(shè)備壽命。作為國產(chǎn)電容領(lǐng)域的代表企業(yè),風(fēng)華高科通過技術(shù)創(chuàng)新,為解決這一行業(yè)痛點(diǎn)提供了新思路。