掌握可控硅（SCR）的測量方法是保障電路可靠性的關鍵環節。本文系統介紹從最基礎的外觀檢查到核心的導通/關斷特性測試技巧，幫助技術人員快速判斷器件狀態。

?? 一、 外觀與基礎檢查

在通電測試前，初步的物理檢查能排除明顯故障。

?? 視覺判別要點

• 引腳標識確認：對照數據手冊，識別陽極(A)、陰極(K)、門極(G) 位置，避免接錯。
• 外殼完整性：檢查塑封或金屬外殼有無破裂、燒焦、變形等物理損傷。
• 焊盤/引腳氧化：觀察引腳是否有嚴重氧化或污染，影響導電性。

? 萬用表基礎通斷

使用數字萬用表二極管檔：
1. A-K間正反向均應顯示開路（OL）。
2. G-K間呈現二極管特性：紅表筆接G，黑表筆接K，顯示約0.5-1V壓降；反接顯示開路。

?? 二、 靜態參數測量

利用萬用表或簡易電路評估關鍵觸發與維持特性。

?? 觸發能力測試 (簡易法)

• 測試原理：模擬門極觸發條件。
• 步驟：
• 萬用表置電阻檔（如R×1或R×10），紅表筆接A，黑表筆接K（此時SCR應截止，阻值高）。
• 用導線瞬間短接A極與G極（或通過1kΩ電阻連接）。
• 觀察：若萬用表阻值顯著下降并維持，表明門極觸發電流足夠，SCR能被觸發導通。

? 維持電流與關斷驗證

• 導通維持：在上述導通狀態下，緩慢調高萬用表電阻檔位（或減小測試電流），觀察維持導通的最小電流（即維持電流概念）。
• 強制關斷：移除A-G連接后，若阻值未恢復，需斷開A-K回路或使電流低于維持值才能關斷，驗證擎住效應。

?? 三、 動態特性評估 (進階)

更精確評估需專用設備或搭建測試電路。

? 導通時間與關斷時間

• 測量需求：需要脈沖信號源、示波器、合適負載。
• 觀察點：施加門極觸發脈沖，示波器監測A-K間電壓下降沿（導通時間）；移除觸發并降低陽極電流至零后，監測A-K間電壓恢復時間（關斷時間）。

?? 電壓耐受能力評估

• 關鍵參數：斷態重復峰值電壓與通態峰值電壓。
• 專業方法：使用可控硅測試儀或可調高壓直流源配合電流限制，逐步增加A-K間反向/正向電壓至規格書標稱值（需嚴格遵循安全規范）。

?? 總結

有效的可控硅檢測需結合外觀初判、靜態參數測量（觸發、維持、關斷）及必要的動態特性驗證。熟練掌握萬用表簡易測試法可解決大部分現場判斷需求，而精確參數獲取則依賴專業儀器。規范的測量流程是保障電力電子系統穩定運行的基礎。(來源：IEC 60747-6標準, 通用測試方法)