在電子電路中，可控硅（SCR）是一種常見(jiàn)的開(kāi)關(guān)器件，測(cè)試其好壞能避免電路故障。本文將介紹使用普通萬(wàn)用表進(jìn)行基本測(cè)試的方法，并揭示判斷SCR好壞的5個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)。

理解可控硅基礎(chǔ)

可控硅是一種半導(dǎo)體器件，用于控制電流開(kāi)關(guān)。它有三個(gè)主要引腳：陽(yáng)極、陰極和門(mén)極。

引腳功能簡(jiǎn)述

• 陽(yáng)極 (A): 電流入口點(diǎn)
• 陰極 (K): 電流出口點(diǎn)
• 門(mén)極 (G): 觸發(fā)控制點(diǎn)
  在未觸發(fā)狀態(tài)，陽(yáng)極-陰極間通常呈現(xiàn)高阻態(tài)；觸發(fā)后，轉(zhuǎn)為低阻態(tài)。
  測(cè)試前，確保器件完全斷電，防止意外損壞。

萬(wàn)用表測(cè)試步驟

使用萬(wàn)用表在電阻或二極管測(cè)試檔進(jìn)行測(cè)量，步驟簡(jiǎn)單易行。

準(zhǔn)備工具

1. 選擇數(shù)字萬(wàn)用表，設(shè)置到二極管測(cè)試模式
2. 檢查測(cè)試筆完好，避免接觸不良

基本測(cè)試方法

• 測(cè)試門(mén)極-陰極：紅筆接G，黑筆接K，顯示約0.6V壓降表示正常
• 測(cè)試陽(yáng)極-陰極正向：紅筆接A，黑筆接K，阻值無(wú)限大表示阻斷正常
• 測(cè)試陽(yáng)極-陰極反向：黑筆接A，紅筆接K，同樣應(yīng)無(wú)限大阻值
  觸發(fā)測(cè)試時(shí)，臨時(shí)施加電壓到G，觀察A-K是否導(dǎo)通。

判斷好壞的5個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)

通過(guò)上述測(cè)試，聚焦5個(gè)指標(biāo)能快速評(píng)估SCR狀態(tài)。

指標(biāo)詳解

1. 門(mén)極觸發(fā)功能: 能否被低電壓觸發(fā)導(dǎo)通
2. 陽(yáng)極-陰極正向阻斷: 高阻態(tài)表示關(guān)閉正常
3. 陽(yáng)極-陰極反向阻斷: 高阻態(tài)防止反向漏電
4. 門(mén)極-陰極結(jié)完好: 二極管特性壓降約0.6V
5. 無(wú)內(nèi)部短路: 所有引腳間阻值高，無(wú)低阻路徑
   每個(gè)指標(biāo)異常都可能表示器件損壞，需更換。
   通過(guò)定期測(cè)試，可控硅能可靠工作，減少電子系統(tǒng)故障。