掌握雙向可控硅（TRIAC）的基礎檢測技能，是電子維修與設計中的關鍵環節。本文將系統介紹使用萬用表進行靜態與動態測試的操作步驟，并解答觸發異常、漏電等典型故障的排查思路。

一、基礎檢測：萬用表測量法

靜態電阻測試

• MT1與MT2間阻值：正常狀態下呈現高阻態（兆歐級），若出現低阻值則可能擊穿。
• 門極（G）阻值：門極對MT1/MT2通常存在數十至數百歐姆阻值，開路或短路均屬異常。

觸發能力簡易測試

1. 萬用表調至電阻檔，紅表筆接MT2，黑表筆接MT1，顯示應為無窮大。
2. 短接門極（G）與MT2，表針應擺動指示導通。
3. 斷開G極連接后，導通狀態應保持（負載敏感型可控硅可能復位）。

二、進階診斷技巧

動態觸發電壓測試

部分數字萬用表具備晶體管測試功能，可直接顯示觸發電壓（Vgt）。觸發電壓過高（如超過3V）可能導致電路驅動不足。

提示：
動態測試需配合直流電源與限流電阻搭建簡易電路，觀察可控硅在觸發信號下的導通/關斷特性。

常見失效模式對照表

現象	可能原因
無法觸發導通	門極開路、觸發電壓過高
觸發后不能維持導通	維持電流不足、器件老化
MT1-MT2間漏電流大	內部污染、部分擊穿

三、典型問題解決方案

為何觸發后無法維持導通？

當負載電流低于維持電流（Ih）時，可控硅將自動關斷。需檢查：
* 負載阻抗是否過大
* 驅動脈沖寬度是否足夠
* 器件規格書中的Ih參數

測量正常但上電誤觸發？

電壓變化率（dv/dt）過高是主因：
* 在MT1-MT2間并聯緩沖電路（RC網絡）
* 確保門極走線遠離干擾源
* 選用高dv/dt耐受型號