掌握雙向可控硅(TRIAC)的基礎檢測技能,是電子維修與設計中的關鍵環節。本文將系統介紹使用萬用表進行靜態與動態測試的操作步驟,并解答觸發異常、漏電等典型故障的排查思路。
一、基礎檢測:萬用表測量法
靜態電阻測試
- MT1與MT2間阻值:正常狀態下呈現高阻態(兆歐級),若出現低阻值則可能擊穿。
- 門極(G)阻值:門極對MT1/MT2通常存在數十至數百歐姆阻值,開路或短路均屬異常。
觸發能力簡易測試
- 萬用表調至電阻檔,紅表筆接MT2,黑表筆接MT1,顯示應為無窮大。
- 短接門極(G)與MT2,表針應擺動指示導通。
- 斷開G極連接后,導通狀態應保持(負載敏感型可控硅可能復位)。
二、進階診斷技巧
動態觸發電壓測試
部分數字萬用表具備晶體管測試功能,可直接顯示觸發電壓(Vgt)。觸發電壓過高(如超過3V)可能導致電路驅動不足。
提示:
動態測試需配合直流電源與限流電阻搭建簡易電路,觀察可控硅在觸發信號下的導通/關斷特性。
常見失效模式對照表
現象 | 可能原因 |
---|---|
無法觸發導通 | 門極開路、觸發電壓過高 |
觸發后不能維持導通 | 維持電流不足、器件老化 |
MT1-MT2間漏電流大 | 內部污染、部分擊穿 |
三、典型問題解決方案
為何觸發后無法維持導通?
當負載電流低于維持電流(Ih)時,可控硅將自動關斷。需檢查:
* 負載阻抗是否過大
* 驅動脈沖寬度是否足夠
* 器件規格書中的Ih參數
測量正常但上電誤觸發?
電壓變化率(dv/dt)過高是主因:
* 在MT1-MT2間并聯緩沖電路(RC網絡)
* 確保門極走線遠離干擾源
* 選用高dv/dt耐受型號