優(yōu)化MOS管驅動電路是提升開關電源、電機控制等系統(tǒng)效率與可靠性的關鍵。不當設計可能導致器件損壞、效率下降或電磁干擾超標。本文將剖析常見設計陷阱及其規(guī)避策略。

驅動電壓與電流的精準匹配

柵極閾值電壓（Vgs(th)） 僅是MOS管導通的起點。實際應用中，驅動電壓需大幅超過Vgs(th)以確保完全導通。若驅動電壓不足，MOS管將工作在線性區(qū)，引發(fā)嚴重發(fā)熱。
* 驅動電壓選擇要點：
* 通常需高于Vgs(th) 3-5倍（來源：行業(yè)實踐）
* 米勒平臺效應 期間需維持足夠電壓平臺
* 避免超過器件最大柵源電壓（Vgs(max)）
驅動電流不足則延長開關時間，增加開關損耗。驅動芯片峰值電流需滿足：
$$I_{peak} = \frac{Q_g}{t_{rise}}$$
其中Qg為柵極總電荷，trise為目標上升時間。

抑制寄生參數(shù)引發(fā)的振蕩

寄生電感（PCB走線、器件引腳）與柵極電容構成LC諧振電路，易引發(fā)高頻振蕩。這種振蕩不僅增加EMI，還可能導致誤導通。
* 關鍵抑制措施：
* 開爾文連接：獨立驅動回路與功率回路
* 縮短驅動回路路徑：優(yōu)先布局驅動IC與MOS管
* 添加柵極電阻：阻尼振蕩但需平衡開關速度
* 采用低電感封裝器件（如DFN，QFN）
米勒電容（Cgd） 引起的導通誤導通需特別關注。在橋式拓撲中，下管關斷時上管dv/dt通過Cgd耦合至柵極，可能意外開通。解決方案包括：
* 增加負壓關斷能力
* 優(yōu)化死區(qū)時間設置
* 使用有源米勒鉗位電路

熱設計與保護的協(xié)同優(yōu)化

即使驅動參數(shù)正確，散熱不足仍會導致熱失效。結溫（Tj） 需始終低于規(guī)格書限值。
* 熱設計考量點：
* 計算開關損耗與導通損耗總和
* PCB銅箔面積與散熱過孔設計
* 必要時添加散熱器（需考慮熱阻）
Vds尖峰 可能擊穿MOS管。關斷速度過快（柵極電阻過小）或主回路寄生電感過大是主因。可采取：
* 調整關斷柵極電阻
* 增加RC緩沖電路（Snubber）
* 優(yōu)化功率回路布局減小寄生電感